技術(shù)編號(hào)：6153289
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及Hg2+的測(cè)定方法，特別是一種適體修飾納米金錸催化_碲微粒共振散 射光譜測(cè)定痕量Hg2+的方法。背景技術(shù)汞離子是一種具有很強(qiáng)毒性和分布廣泛的金屬離子，能夠破壞人的大腦、神經(jīng)系 統(tǒng)、腎臟和內(nèi)皮組織，從而導(dǎo)致很嚴(yán)重的后果。因此，建立一種簡(jiǎn)便、快速、靈敏度高和選擇 性好的測(cè)定方法就顯得尤為重要。目前，測(cè)定汞離子的方法主要有冷原子吸收光度法，原子 熒光光度法，以及基于生色團(tuán)和熒光團(tuán)的化學(xué)傳感器測(cè)定方法等。以上這些方法有的是靈 敏度不高，有的是步驟繁瑣，不...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。