技術(shù)編號：6151489
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種接觸式光纖測頭測量方法和測量裝置結(jié)構(gòu)，屬于精密測 試技術(shù)與儀器和光學(xué)精密測量。背景技術(shù)測頭可視為傳感器，只是其結(jié)構(gòu)、功能較一般傳感器更為復(fù)雜。測頭的 兩大基本功能是測微(即測出與給定的標(biāo)準(zhǔn)坐標(biāo)值的偏差量)和觸發(fā)瞄準(zhǔn)并過 零發(fā)訊。測頭是精密量儀的關(guān)鍵部件之一，作為傳感器提供被測工件的幾何信息， 其發(fā)展水平直接影響精密量儀的測量精度、工作性能、使用效率和柔性程度。 在目前廣泛使用的坐標(biāo)測量機(jī)中，測頭的設(shè)計和制造更決定了測量機(jī)的整體 性能。其發(fā)展歷...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。