技術(shù)編號：6150757
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及光學檢測領(lǐng)域，特別是涉及一種大口徑光學系統(tǒng)或元件的拼接檢測系統(tǒng)。 背景技術(shù)大口徑光學元件正越來越多的應(yīng)用于天文觀測、空間光學、遙感觀測、激光核聚變系統(tǒng) 等領(lǐng)域，其加工和檢測技術(shù)是當今國內(nèi)外研究的難點和熱點。在采用常規(guī)的測量方式時，隨 著口徑的增大，在考慮成本的前提下提高測量精度是非常困難的。而采用小口徑儀器去測量 大口徑光學元件能更好的解決提高測量精度與降低設(shè)備成本之間的矛盾，為光學元件的檢測 提供一種新方法。目前己出現(xiàn)了"子孔徑拼接干涉儀"的檢...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。