技術(shù)編號:6150592
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及測量裝置與,具體涉及一種測量地表面粗糙度的針式粗糙度儀。背景技術(shù)為了描述不規(guī)則隨機表面,通常把它的高程看作是一個二維隨機場,也就是2參數(shù)的隨機過程z(x,y),其中,x,y表示水平坐標。以此為基礎(chǔ)計算的表面高程均方差,相關(guān)長度,或者擬合的相關(guān)長度函數(shù),相關(guān)長度的頻譜,成為粗糙度參數(shù)和粗糙度譜等表面特性參數(shù)。 而微波遙感面散射模型中最常用的粗糙度參數(shù)是相關(guān)度函數(shù)的二維粗糙度譜W(kx,ky)。例如SPM模型、IEM模型、Kirchhoff低頻(標量...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。