技術編號：6144477
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及用于未受影響的材料分析(unaffected materialanalyse)的方法和裝置。背景技術為了例如檢測、定位及確定材料的變化、偏差、變異、差異、缺陷等中的至少一種以 及為了檢查所希望的材料分布和所不希望的材料分布，對材料及其性質(zhì)的研究在許多技術 領域內(nèi)都是所希望的且是必要的。這樣的材料分析之前已經(jīng)通過被切割并直觀地研究的材料，或者通過被去除并在 例如顯微鏡下研究的部分材料(已經(jīng)獲得的材料樣本)發(fā)生了。這種在該材料取樣期間發(fā) 生的機械處理...
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