技術(shù)編號(hào):6142067
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及集成電路以及與此類似產(chǎn)品的測(cè)試。更明確的說(shuō),本發(fā)明涉及一種用來(lái)對(duì)集成電路進(jìn)行功能測(cè)試的芯片內(nèi)調(diào)試系統(tǒng)。背景技術(shù)集成電路,包括處理器,比如CPU以及其它同類設(shè)備,為了保證其正常功能需要充分的測(cè)試,稱為調(diào)試。隨著集成電路變得更快更復(fù)雜,全面功能測(cè)試的需求變得更加重要。已有大量的技術(shù),用來(lái)為包括處理器在內(nèi)的集成電路提供調(diào)試支持。其中一種這樣的方法利用專用芯片內(nèi)邏輯,比如,一系列的斷點(diǎn)。所謂斷點(diǎn),是指處理器的控制流中,允許修改處理器運(yùn)行的點(diǎn)。舉例來(lái)說(shuō),斷...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。