技術編號：6140317
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種基于“壽命-應力”模型的電子產(chǎn)品加速壽命試驗方法，尤其涉及一種基于“壽命-應力”模型的電子產(chǎn)品加速壽命試驗方法。它是一種基于威布爾壽命分布模型和Peek溫濕模型的加速模型，屬于加速壽命試驗。背景技術近年來，隨著可靠性試驗技術的發(fā)展，加速壽命試驗逐漸成為鑒定產(chǎn)品的可靠性壽命的主要手段之一。所謂加速壽命試驗，即是在不引入新的失效機理的前提下，通過采用加大應力的方法促使樣品在短期內失效，以預測產(chǎn)品在正常工作條件或儲存條件下的可靠性的試驗。它以實驗為...
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