技術編號：6138499
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明一般地涉及光纖生產(chǎn)中的質(zhì)量控制和光纖缺陷的早期檢測。更具體地說，本發(fā)明涉及檢測諸如在光纖制造期間由粘附到光纖表面上的顆粒引起的這些瑕疵和表面缺陷的光電檢測器系統(tǒng)和方法。背景技術在由坯料抽拉光纖期間會出現(xiàn)各種缺陷。這些缺陷包括光纖內(nèi)的孔、光纖內(nèi)的雜物或粒子、光纖表面上的粒子以及表面磨蝕。光纖上存在表面磨蝕或粒子會在光纖制造后道工序階段引起光纖斷裂。因此，從實現(xiàn)最高制造成品率的角度考慮，在光纖制造期間，質(zhì)量控制是很關鍵的。為此，已知有多種多樣測試光纖質(zhì)量...
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