技術(shù)編號：6133506
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及利用光學(xué)傳感器測量目標(biāo)角度位置的設(shè)備及方法。特別涉及一種與設(shè)備軸線和發(fā)光或反光目標(biāo)有關(guān)，用來確定橫向偏移角的三角正切值的設(shè)備和方法。位移測量在制造工業(yè)中十分重要，對那些依賴信號反饋進(jìn)行控制的制造業(yè)來說，尤其重要。光學(xué)傳感器在工業(yè)定位中十分有用，因?yàn)樗鼈兛梢赃M(jìn)行非接觸性測量并可不受電磁干擾。近來，許多固定的設(shè)備中都含有光學(xué)傳感器，它們可以用來確定一個(gè)目標(biāo)的存在，也就是物體探測；或確定與一個(gè)目標(biāo)的直線距離，即距離測量。以下專利對上述一些光學(xué)傳感器的類...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。