技術(shù)編號：6133426
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明一般涉及電子學，更具體地涉及形成半導體器件的方法和結(jié)構(gòu)。背景技術(shù) 在過去，半導體工業(yè)利用各種方法和結(jié)構(gòu)來構(gòu)造脈寬調(diào)制(PWM)電源控制器。然而，通常難于精確測試電源控制器的控制回路的精確度。通常，測試探針放置成與電源控制器半導體管芯(die)上的各個點接觸，且用于在半導體管芯上的不同點處注入信號和采樣信號。然而，這些探針具有非常大的寄生電容和電感。當測試電源控制器時，寄生電容和電感導致大的噪聲信號，其使得難于精確確定被測試信號的值。在某些情況下，電路...
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