技術(shù)編號：6131999
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種按有效的標(biāo)準(zhǔn)方式且滿足制造廠家的ASIC(專用集成電路)輸出狀態(tài)翻轉(zhuǎn)測試要求的方法，這樣的標(biāo)準(zhǔn)方式不依賴于這種ASIC的主要專用功能。一種用于測試?yán)缭诩呻娐?IC)芯片內(nèi)形成的復(fù)雜的集成電路的公知方法是由國際聯(lián)合測試行動組織(JTAG)提出的IEEE 1149.1邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)，這里引用可供參考。這種標(biāo)準(zhǔn)中的一種實(shí)施方案包含通過形成移位寄存器單元的菊花鏈(daisy chained)，設(shè)計用于串行邊界掃描測試的各個組成部分(例如集成電路)，...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。