技術(shù)編號：6130275
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及測量領(lǐng)域，具體涉及基于焦平面成像法的發(fā)射模塊間同軸度測 量方法。背景技術(shù)為適應(yīng)800nm、 1550nm兩波段光學(xué)系統(tǒng)性能參數(shù)的測量，測試系統(tǒng)需要 改變其發(fā)射激光光束波長。采用模塊化設(shè)計，針對不同發(fā)射波長設(shè)計不同的發(fā) 射模塊，共用同一發(fā)射天線，是實現(xiàn)這一功能的有效手段。對光學(xué)系統(tǒng)進行測 試時，可通過更換模塊的方式實現(xiàn)輸出不同波長。由于測試系統(tǒng)對發(fā)射光束的出射方向要求極高，因此更換不同發(fā)射模塊 時，要求可對模塊間出射的同軸度進行精確測量，并以此為基...
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