技術(shù)編號：6126173
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及超聲測量技術(shù)，特別是涉及一種利用超聲多次反射信號測量處于離散 狀態(tài)顆粒的粒度分布及其濃度的技術(shù)。 背景技術(shù)對分散狀態(tài)顆粒的粒度大小和濃度進(jìn)行測量，在涉及兩相流動的動力、化工、 醫(yī)藥、環(huán)保、水利、材料等領(lǐng)域中具有廣泛應(yīng)用背景。與現(xiàn)有測量方法如篩分法、 顯微鏡法、全息照相法、電感應(yīng)法、沉降法等比較，超聲法往往具有自動化程度高， 能進(jìn)行快速且準(zhǔn)確的測量。同時由于超聲波具有寬的頻帶范圍，強(qiáng)穿透能力，可在 有色甚至不透明的物質(zhì)中傳播并具有測量速度快，超聲波...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。