技術編號：6124250
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及定位自動測試系統的接口單元的裝置和方法。背景技術 一般而言，在制造處理過程中，需要測試半導體器件?？梢允褂米詣訙y試設備(ATE)進行測試。測試器可以包含產生和測量電信號的電路，其中需要電信號來判斷該器件是否正常地工作。單獨的材料操作器件可以用來將半導體器件移動到測試器。當在半導體器件已經被封裝之后對半導體器件進行測試時，材料操作器件通常稱為操作器。當半導體器件還在晶片上的同時對半導體器件進行測試時，材料操作器件通常稱為探針?？傊?，測試器和材料操作...
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