技術(shù)編號(hào)：6119867
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種測量固體料位置的儀器，具體涉及適用于固體料測位的新型薄膜式測位儀。背景技術(shù)固體料位測量一直是個(gè)難題，很難有一個(gè)準(zhǔn)確可靠的最佳測量方式。過去以重錘式為主，這種機(jī)械式儀表故障多，壽命短。近年來，射頻導(dǎo)納、超聲波、雷達(dá)、激光式物位儀在測量固體物料上顯示出各自特點(diǎn)，使固體物料料位的測量水平有一定的提高，但由于造價(jià)較高，產(chǎn)品的性能比較低。固體的料位測量，目前主要是以阻旋式居多，其次是音叉式和電容式。但由于阻旋式物位測位儀處在不斷的旋轉(zhuǎn)中，物位測量的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。