技術編號：6115992
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于天線，涉及陣列天線方向圖測量技術，特別涉及陣列天線方向圖的頻域測量方法。背景技術隨著現(xiàn)代通信技術的不斷進步，天線技術也得到了較快的發(fā)展。其中，陣列天線以其饋電激勵源多樣性、掃描形式靈活性、利于共形設計和智能化管理等特點，得到了越來越廣泛的應用。目前對于陣列天線方向圖的測量，大致可分為近場測試、遠場測試和緊縮場測試三種。(1)遠場測試。由位于遠場的發(fā)射天線發(fā)射電磁波，發(fā)射電磁波近似為平面波形式照射到待測陣列天線，從而在待測陣列天線端口處檢測出陣列天...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。