技術(shù)編號：6115940
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及基于標(biāo)準(zhǔn)尺的大尺寸高精度測量的方法和裝置。背景技術(shù)隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，對大尺寸構(gòu)件的幾何量測量精度提出了越來越高的要求。由于大尺寸構(gòu)件體積大，熱容量大，一般須在加工現(xiàn)場測量，多數(shù)為間接測量，所以測量條件較差，誤差傳遞復(fù)雜，難以獲得較高精度。測量環(huán)境的溫度場因測量器具和被測件的溫度敏感性對尺寸測量的精度產(chǎn)生影響，對于大尺寸這一影響尤其突出。要解決這個問題，一般有兩種措施一是將被測工件溫度嚴(yán)格控制在標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)；二是對溫度誤差進(jìn)行修正。由于第一種方法...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。