技術(shù)編號(hào)：6110722
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種能夠檢測(cè)插座的缺陷的電子器件處理設(shè)備，所述 的插座的缺陷如插座端子的磨損和變形以及污物和異物的附著。背景技術(shù)在IC器件等電子器件的制造工序中，電子器件測(cè)試設(shè)備用于測(cè)試最終所制造的電子器件的性能和功能。作為現(xiàn)有例子，電子器件測(cè)試設(shè)備具有用于對(duì)電子器件進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試部分、用于將測(cè)試前的IC器件傳送給測(cè)試部分的加載部分、 和用于從測(cè)試部分取出測(cè)試后的IC器件并分類的卸載部分。加載部分具有能夠在加載部分與測(cè)試部分間前后移動(dòng)的緩沖臺(tái)、和具有用于利用吸附...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。