技術(shù)編號：6110692
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及 一 種用于測試由支電路纟且成的半導(dǎo)體電^各的測試^ 方法，該測試方法尤其用于測試新制造的存儲器器件。此外，本發(fā) 明還涉及一種用于可編程的存儲器測試器的順序程序，該可編程的 存儲器測試器用來執(zhí)行根據(jù)本發(fā)明的測試方法以及一種用于由支 電路組成的半導(dǎo)體電路的制造方法。背景技術(shù)在研發(fā)和制造新的集成半導(dǎo)體電路時，尤其是在制造存儲器 時，所謂的設(shè)計分析占據(jù)了很大的比例。在進(jìn)行設(shè)計分析時，檢查 已處理完的半導(dǎo)體電路的功能性，也就是說，它們是否滿足事先規(guī) 定的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。