技術(shù)編號：6110600
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及用于測試集成電路的裝置。更特別地，本發(fā)明涉及 一種用于半導(dǎo)體集成電路的晶片測試的探針卡。背景技術(shù)在半導(dǎo)體集成電路制造中，通常在制造期間以及出貨之前測試 集成電路("IC"),以確保正常的操作。晶片測試是公知的測試技 術(shù)，其通常用于安裝有晶片的半導(dǎo)體IC (或多個小片(dice))的 產(chǎn)品觀'H式，其中，在自動測i式裝置(automatic test equipment, ATE) 與安裝于晶片上的每個IC之間建立臨時電流，以證明IC的正常性 片測...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。