技術(shù)編號(hào)：6110182
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本申請(qǐng)通常涉及測(cè)試和測(cè)量裝置，尤其是涉及測(cè)試器和被測(cè)器件之間的接口。背景技術(shù) 自動(dòng)測(cè)試裝置廣泛地用于確保半導(dǎo)體器件的正確運(yùn)行。測(cè)試使得可以從各制造批次中去除不合格器件，由此消除了進(jìn)一步必要的處理和封裝。另外，測(cè)試結(jié)果可用于識(shí)別出有故障的制造裝置需求維護(hù)，由此增加了器件成品率。測(cè)試結(jié)果還使得可以對(duì)由于工藝變化所導(dǎo)致的具有不同性能和工作規(guī)范的器件進(jìn)行分類。例如，可將具有表示該器件不滿足期望規(guī)范的測(cè)試結(jié)果的器件進(jìn)行封裝，并通過標(biāo)識(shí)出其具有降低的工作范圍和/或性能...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。