技術(shù)編號(hào):6108765
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種用于有效測(cè)試多個(gè)半導(dǎo)體集成電子器件的測(cè)試頭的接觸探針,其中半導(dǎo)體集成電子器件包括多個(gè)所謂的接觸焊盤(pán)。更具體地,本發(fā)明涉及一種用于有效測(cè)試多個(gè)半導(dǎo)體集成電子器件的測(cè)試頭的接觸探針,所述探針包括桿狀探針體,桿狀探針體具有預(yù)定輪廓的橫截面,并與具有偏心接觸測(cè)尖的至少一個(gè)尖端部相對(duì)應(yīng)而設(shè)置。本發(fā)明還涉及一種具有這種類(lèi)型的垂直探針的測(cè)試頭所述類(lèi)型的垂直探針包括至少第一和第二板狀保持器,所述第一和第二板狀保持器分別設(shè)有至少一個(gè)引導(dǎo)孔,所述引導(dǎo)孔用于容納至...
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