技術(shù)編號(hào)：6108760
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明一般涉及光電離檢測(cè)器，尤其涉及用于光電離檢測(cè)器的電離室，以及光電離檢測(cè)器的使用方法。背景技術(shù) 若干光電離檢測(cè)器在例如美國(guó)專利No.4,013,913、4,398,152、5,561,344、6,225,633和6,646,444、以及德國(guó)專利DE 19535216 C1中描述。在典型的光電離檢測(cè)器(PID)中，微型氣體放電燈用于產(chǎn)生高能真空紫外線(VUV)光子。在一種方法中，較大的高頻電壓施加在與燈泡相鄰的電極之間，以便于在燈泡內(nèi)密封的氣體中引發(fā)電離...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。