技術(shù)編號(hào)：6105314
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種通過(guò)向半導(dǎo)體裝置提供測(cè)試圖形信號(hào)并評(píng)價(jià)半導(dǎo)體裝置的結(jié)果輸出信號(hào)以測(cè)試半導(dǎo)體裝置的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備。尤其是涉及一種基于事件的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)，其用來(lái)產(chǎn)生被用作測(cè)試圖形信號(hào)和選通信號(hào)的具有不同定時(shí)的事件以鑒定半導(dǎo)體裝置，其中，每一事件的定時(shí)由距一預(yù)定點(diǎn)的時(shí)間長(zhǎng)度來(lái)確定。在用如IC測(cè)試器的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試諸如IC和LSI等半導(dǎo)體裝置時(shí)，在一預(yù)定的測(cè)試定時(shí)向被測(cè)試的半導(dǎo)體裝置的適當(dāng)管腳提供測(cè)試信號(hào)。該半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng)從被測(cè)試的裝置處接收一響應(yīng)于該測(cè)試信號(hào)而...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。