技術(shù)編號：6103045
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種顯示裝置中所提供的測試電路，該顯示裝置具有其內(nèi)象素以矩陣形式排列的象素區(qū)域，并且涉及該顯示裝置的一種測試方法。背景技術(shù) 近些年來，顯示裝置，諸如液晶顯示器(LCD)和場致發(fā)光(EL)顯示器，已經(jīng)提高了屏幕尺寸和分辨率，并且已經(jīng)通過集成象素部分和外圍電路開發(fā)了高度集成電路，用以控制同一基板上的象素部分。如果由于制造步驟中的形狀缺陷、靜電放電損壞(ESD)或類似損壞造成對元件的損壞，顯示裝置本身就不能正常運行，因而應(yīng)該通過質(zhì)量控制將其去除。通常，...
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