技術(shù)編號：6100223
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種方法和系統(tǒng)，用于采用一個具有多個導(dǎo)電板的容性測量設(shè)備來非接觸測量在一傳感器和一導(dǎo)電或者非導(dǎo)電表面之間的間隙。所述容性測量設(shè)備允許測量材料深度和在固體和液體中的電介質(zhì)改變。背景技術(shù) 非接觸間隙測量傳感器具有兩層平行疊加的導(dǎo)電板，它們彼此電絕緣，上述裝置例如在專利號為4,675,670；5,990,807；6,075,464和6,552,667的美國專利中公開。一個高頻信號位于所述傳感器的第一板上。通過測量傳感器和一接近表面之間的電容，所述傳感器...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。