技術(shù)編號(hào)：6099688
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于測(cè)試儀器，特別是單通道多參數(shù)表面等離子體諧振(SPR)測(cè)試儀。背景技術(shù) 目前，單通道表面等離子體諧振(SPR)測(cè)試儀每次只測(cè)量一個(gè)參數(shù)，多通道表面等離子體諧振(SPR)測(cè)試儀的每個(gè)通道也只測(cè)量一個(gè)參數(shù)，造成測(cè)試過(guò)程復(fù)雜，數(shù)據(jù)量大，耗時(shí)且容易出錯(cuò)。發(fā)明內(nèi)容本發(fā)明的目的是提出一種新型單通道多參數(shù)表面等離子體諧振(SPR)測(cè)試儀，該儀器采用兩單元芯片、配合相應(yīng)的光學(xué)系統(tǒng)、檢測(cè)系統(tǒng)和信息處理系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)雙參數(shù)檢測(cè)；或采用多單元芯片及相應(yīng)的信號(hào)采集處理系統(tǒng)，也...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。