技術(shù)編號：6098283
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種彌散顆粒紅外光譜輻射特性的測量裝置及測量方法。 背景技術(shù)彌散顆粒狀物質(zhì)涉及到化工、冶金、動力、建筑、醫(yī)藥、生物、食品、航天、軍事及大氣科學(xué)等多個領(lǐng)域。據(jù)統(tǒng)計，工業(yè)中有50%以上的產(chǎn)品與中間產(chǎn)品呈粒子狀，這些粒子在加熱、冷卻、干燥及換熱等過程中，參與輻射換熱。其典型應(yīng)用包括含碳黑及飛灰的燃燒火焰、含凝相金屬氧化物粒子射流、固體火箭及導(dǎo)彈尾噴焰、含微粒半透明感光材料、含微粒紅外隱身涂料、含納米粒子半導(dǎo)體材料等。同時，在高溫燃燒系統(tǒng)中甚至在常溫狀態(tài)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。