技術(shù)編號(hào):6097631
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及光束測(cè)試系統(tǒng),特別是涉及一種用于測(cè)試某一光束波陣面性質(zhì)的具有一個(gè)微反射鏡的干涉儀,以及在該系統(tǒng)中的濾光方法。許多現(xiàn)有系統(tǒng)可以用來(lái)從被測(cè)光源光束中分離出一束參考光束。在諸如干涉度量等應(yīng)用中這種參考光束很有用。一些系統(tǒng)通過(guò)針孔,即一個(gè)很小的開(kāi)口,從被測(cè)光源發(fā)出的光束中產(chǎn)生參考光束。從初始光源光束中產(chǎn)生的參考光束與初始光源光束具有相同的波長(zhǎng)和固定的相位關(guān)系。通常,由針孔提供的參考光束相對(duì)地避免了源光束中的象差效果。眾所周知,當(dāng)置于象差光束光路上的針孔足...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。