技術(shù)編號：6079944
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型屬于原子光譜探測裝置，可應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、材料、環(huán)境等各個(gè)領(lǐng)域中的無機(jī)物質(zhì)成份分析。原理在于利用激光誘導(dǎo)透蝕光譜對物質(zhì)組成的主、次、痕量元素進(jìn)行多視界、多維度、原位微區(qū)分析。背景技術(shù)隨著科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，激光誘導(dǎo)透蝕光譜探測技術(shù)也日趨完善，它被逐步應(yīng)用于冶金、建材、醫(yī)學(xué)和環(huán)境監(jiān)測等領(lǐng)域里，并朝著自動(dòng)化、智能化和便攜化發(fā)展。目前國內(nèi)外相關(guān)應(yīng)用領(lǐng)域?qū)す庹T導(dǎo)透蝕光譜儀開展了研究，但由于各個(gè)領(lǐng)域的要求不同，對探測儀的性能也提出不同的要求，特別是對于復(fù)雜地...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲(chǔ)備，不適合論文引用。