技術(shù)編號(hào)：6073889
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型公開了一種用于X射線衍射測(cè)定的密封樣品架，其特征在于，包括加樣口、樣品槽、加樣漏斗、密封塞；所述樣品槽開設(shè)于所述密封樣品架的上半部，所述加樣口設(shè)置于所述樣品槽的頂端或側(cè)面，所述加樣漏斗將環(huán)境敏感樣品從所述加樣口加入到所述樣品槽中，當(dāng)所述樣品槽中的環(huán)境敏感樣品填滿后，用所述密封塞等封好所述加樣口。專利說明一種用于X射線衍射測(cè)定的密封樣品架 [0001]本實(shí)用新型涉及密封樣品架，特別是涉及一種用于環(huán)境敏感樣品粉末X射線衍射測(cè)定時(shí)使用的密封樣品架...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。