技術(shù)編號：6043110
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請?zhí)峁┮环N薄儲層的預(yù)測方法及系統(tǒng)，所述方法包括獲取地震數(shù)據(jù)與測井數(shù)據(jù)；對所述測井數(shù)據(jù)進行一致性處理；根據(jù)所述地震數(shù)據(jù)與一致性處理后的測井數(shù)據(jù)構(gòu)建地質(zhì)模型；將所述地質(zhì)模型進行沉積微相及層序構(gòu)架的劃分；根據(jù)所述劃分層序構(gòu)架及沉積微相后的地質(zhì)模型，進行層序約束的地質(zhì)統(tǒng)計學(xué)反演；對所述地質(zhì)統(tǒng)計學(xué)反演的結(jié)果進行篩選，并將篩選后的結(jié)果進行地層切片，得到薄儲層的平面分布規(guī)律。本申請實施例提供的一種薄儲層的預(yù)測方法及系統(tǒng)，在利用物探手段提高分辨率的基礎(chǔ)上，將地質(zhì)認識融...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。