技術(shù)編號：6041514
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電磁兼容測量，特別涉及用GTEM室做輻射EMI測試的線性法。背景技術(shù) 在電磁兼容(EMC)測試中，輻射發(fā)射測量與輻射敏感度測量是重要部分。對這兩種測試，幾十年來國際上一直以在開闊場的測試結(jié)果為標(biāo)準(zhǔn)，即使到現(xiàn)在，當(dāng)別的場地的測試結(jié)果與開闊場結(jié)果有矛盾時，仍以開闊場結(jié)果為準(zhǔn)。但隨著城市空間電磁污染的日益嚴(yán)重，要找一塊無電磁污染的開闊場是越來越困難了。于是，人們逐漸用屏蔽半暗室來代替開闊場做輻射干擾和輻射敏感度的實驗。由于建造屏蔽半暗室的價格比較昂貴，...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。