技術(shù)編號:6033060
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及測試工具領(lǐng)域,更確切地說是一種可以上下調(diào)節(jié) 功能的電路板測試裝置。 背景技術(shù)撓性電路板加工過程中,都需經(jīng)過開、斷路測試這道工序,目前 通用的做法是,在檢測平臺上放著被測試撓性電路板,將測試探頭下 移至電路板上,檢測完畢,再將測試探頭升上,測試探頭與檢測平臺間約有200mm距離,測試探頭運(yùn)行速度慢、效率低,往往運(yùn)行時間大于測試時間,影響檢測速度。發(fā)明內(nèi)容本實(shí)用新型的目的在于克服上述之不足,提供一種運(yùn)行速度快的 具有上下調(diào)節(jié)功能的測試裝置。本實(shí)用...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。