技術編號：6030310
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種導磁構件漏磁無損檢測技術，具體涉及一種導磁構件 超強磁化漏磁檢測方法與裝置。背景技術漏磁檢測方法是從磁粉檢測法延伸出來的。最初的磁化方式為剩磁法， 被檢測導磁構件的磁化狀態(tài)很弱；隨后的直接常規(guī)磁化法加強了被檢測導 磁構件的磁化狀態(tài)，增強了缺陷的顯示指示性，但存在著缺陷走向與磁化 方向有關的檢出性問題磁化方向盡可能與缺陷走向垂直才能夠很好的被 檢測并觀察出。所以目前導磁構件上全方位走向傷的全面只能采用復合磁 化漏磁檢測方法得以完成，檢測方法相對...
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