技術(shù)編號(hào)：6030132
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種電容檢測(cè)裝置，尤其涉及一種檢測(cè)大容量電容器隱性擊穿 的裝置。背景技術(shù)電容器在生產(chǎn)過程中，裝配后要進(jìn)行老化修復(fù)處理，使電容器的參數(shù)特性 穩(wěn)定，達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)。在老化修復(fù)中，因鋁箔表面氧化膜疵點(diǎn)、鋁箔毛刺、氧化膜 粉塵等，在通電過程中，會(huì)產(chǎn)生擊穿，部分電容器擊穿點(diǎn)形成短路，在后續(xù)的測(cè)試分選中，篩選廢棄；部分電容器擊穿點(diǎn)形成開路，電容器特性參數(shù)恢復(fù)。 擊穿點(diǎn)形成開路的電容器，我們稱為隱性擊穿，在以后的充電或負(fù)荷運(yùn)行中， 會(huì)再次擊穿，影響電容器的可靠性。因...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。