技術(shù)編號(hào)：6028052
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種儀器分析樣品臺(tái)，尤其是一種XRD (X射線衍射儀)用塊狀樣品臺(tái)。背景技術(shù)目前X射線粉末衍射儀如布魯克DS-Advance系列衍射儀及其它品牌的衍射儀是利用測(cè)角儀樣品架上的三個(gè)觸點(diǎn)接觸樣品臺(tái)基準(zhǔn)平面，從而確定樣品測(cè)試面，測(cè)試過程中樣品臺(tái)不轉(zhuǎn)動(dòng)。廠家提供的淺槽樣品臺(tái)和微量樣品臺(tái)均為測(cè)試粉末的樣品臺(tái)，但很多固體塊狀、片狀樣品同樣需要X射線衍射儀的測(cè)試，為此，很多儀器使用者都在自己開發(fā)制作固體塊狀、片狀樣品臺(tái)。如中國(guó)專利200720174416....
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。