技術(shù)編號(hào):6027896
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種觸針片校準(zhǔn)裝置,用于觸針片(也稱為專用片)的觸針組在接觸晶片上的平整化,其中所述觸針片與一個(gè)作為通向測(cè)試頭的接觸接口的印刷電路板相連。在德國(guó)專利文獻(xiàn)DE2544735A1中公開了一種測(cè)試頭支架,利用該支架可調(diào)整各個(gè)帶有測(cè)試針尖的測(cè)試頭之間的間隔。其目的是使測(cè)試頭與陶瓷襯底的不同收縮率相匹配。此外,在美國(guó)專利文獻(xiàn)US5861859中公開了一種用于測(cè)試片的自動(dòng)平整系統(tǒng),其中對(duì)測(cè)試片相對(duì)于晶片表面進(jìn)行調(diào)整,首先將測(cè)試片的3個(gè)針尖對(duì)準(zhǔn)晶片表面,其中兩...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。