技術(shù)編號：6023974
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種根據(jù)獨立權(quán)利要求的前序的方法。背景技術(shù) 單端口或多端口電路的特性是由它們的散射參數(shù)(scattering parameters)來確定的。這些散射參數(shù)是電路端口處輸入和輸出的波形參數(shù)的商，可以通過標(biāo)量或矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀來測量散射參數(shù)。這種網(wǎng)絡(luò)分析儀通常使用正弦測量信號來工作。為了減小由測量端口的非理想特性所引起的測量誤差，在設(shè)備進行實際測量之前，都要對這種類型的網(wǎng)絡(luò)分析儀進行校準(zhǔn)。為此，將各種校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)(calibration standards...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。