技術(shù)編號(hào)：6013674
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及數(shù)字集成電路SOC測試，具體涉及到可復(fù)用 IP (Intellectual Property)芯核的 SOC 測試。背景技術(shù)隨著集成電路工藝的提高，由多個(gè)芯片構(gòu)成的復(fù)雜系統(tǒng)可以集成在一個(gè)芯片上， 系統(tǒng)芯片SoC應(yīng)運(yùn)而生。隨著對(duì)芯片可靠性需求的提高，SoC測試技術(shù)得到了廣泛的研究。SoC測試可以分為離線測試和在線測試。在線測試是指在電路運(yùn)行時(shí)進(jìn)行物理故障檢測。在線測試顯得越發(fā)重要的原因主要有以下幾點(diǎn)首先，在航天、軍事等安全性要求很高的關(guān)鍵領(lǐng)域，需要...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。