技術(shù)編號(hào):6009960
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及壓阻系數(shù)的測(cè)量方法,具體涉及基于SOI硅片的雙端固支梁壓阻系數(shù)的測(cè)量方法。背景技術(shù)參見圖1,SOI硅片從下到上依次包括襯底1、左右兩支撐2和雙端固支梁3,襯底 1和雙端固支梁3均為硅層,左右兩支撐2為二氧化硅層。當(dāng)雙端固支梁3的尺寸縮小到納米量級(jí)后,其質(zhì)量大大減小,由此導(dǎo)致高達(dá)GHz的諧振頻率,品質(zhì)因數(shù),靈敏度大為提高,功耗則顯著減少。這些特性使雙端固支梁3在諧振器、濾波器、生物化學(xué)傳感器等方面有良好的應(yīng)用前景。隨著尺寸減少,傳統(tǒng)的信號(hào)檢測(cè)機(jī)制遇...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。