技術(shù)編號：6007660
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種化學(xué)輻射劑量計及其檢測方法，尤其是一種基于全波譜原理的化學(xué)輻射劑量計及其檢測方法。背景技術(shù)輻射計量是發(fā)展國民經(jīng)濟和國防建設(shè)重要有效的質(zhì)量控制手段，輻射劑量控制涉及許多新興學(xué)科和研究生產(chǎn)行業(yè)，涉及醫(yī)療、藥品和醫(yī)療器械消毒滅菌、高分子材料的改性等許多領(lǐng)域。隨著現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)向高速化、自動化方向的發(fā)展，使用波譜測量儀器成為對產(chǎn)品進行客觀評價的主要手段之一。傳統(tǒng)光譜分析設(shè)備由于具有光柵、鏡片等活動部件，對使用的條件和環(huán)境有著苛刻的要求。新技術(shù)通過光子晶...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。