技術(shù)編號：6002357
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種半導(dǎo)體器件的檢測設(shè)備，特別是指一種可實現(xiàn)多路半導(dǎo)體激光器特性參數(shù)同時檢測并可與控制計算機(jī)預(yù)先設(shè)定的標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)比較而判斷半導(dǎo)體激光器優(yōu)劣的多路半導(dǎo)體激光器光電檢測設(shè)備。背景技術(shù)在半導(dǎo)體激光器的大規(guī)模生產(chǎn)中，需要一種特定的檢測設(shè)備，該設(shè)備既能同時檢測激光器的各種光學(xué)及電學(xué)的綜合特性參數(shù)，又能具備較高的檢測效率，同時還要能做到自動分析、判別各種測試結(jié)果，以適合普通操作者使用。迄今為止的行業(yè)信息及公開文獻(xiàn)顯示，國內(nèi)已有的激光器檢測方式和檢測設(shè)備尚未...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。