技術(shù)編號(hào)：5999039
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種硅電池片檢測(cè)設(shè)備，尤其涉及一種檢測(cè)硅電池片主柵線缺陷的裝置。背景技術(shù)硅電池片的制造工藝由p-n結(jié)制備、PECVD鍍減反射膜、印刷背電極、印刷被電場(chǎng)、 印刷正電極、印刷柵線和高溫?zé)Y(jié)等工序，每道工序均對(duì)硅電池片的質(zhì)量有著重要的要求， 在印刷柵線的過程中，容易引起柵線缺失、偏移或者彎曲?，F(xiàn)有的印刷設(shè)備，柵線缺失時(shí)會(huì)有檢測(cè)系統(tǒng)檢測(cè)到并報(bào)警，而柵線偏移或者彎曲現(xiàn)有的印刷設(shè)備的檢測(cè)系統(tǒng)就檢測(cè)不到， 使硅電池片進(jìn)入下一制作工序。在組件焊接時(shí)，因?yàn)橹鳀?..
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。