技術(shù)編號(hào)：5967090
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種多波段光輻射測(cè)試方法，特別是一種在實(shí)驗(yàn)室環(huán)境下可以進(jìn)行模 擬的，。背景技術(shù)近年來，目標(biāo)輻射測(cè)量已成為國內(nèi)外一個(gè)重要的研究方向，目標(biāo)輻射測(cè)量是獲取 目標(biāo)特征、對(duì)目標(biāo)進(jìn)行識(shí)別的重要手段，目前的目標(biāo)輻射研究方法主要有仿真計(jì)算和輻射 試驗(yàn)測(cè)量兩種手段。仿真計(jì)算由于不受試驗(yàn)場(chǎng)地條件和成本限制而得到廣泛應(yīng)用，但無法 驗(yàn)證其準(zhǔn)確性和有效性，只能作為一種輔助手段；而輻射試驗(yàn)測(cè)量是獲取目標(biāo)真實(shí)輻射特 性的直接手段，大氣透過率是限制目標(biāo)輻射測(cè)量精度的重要因素，然...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。