技術(shù)編號：5966108
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及芯片測試領(lǐng)域，特別是涉及一種芯片級測試裝置。背景技術(shù)隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子芯片的應(yīng)用越來越廣泛。在使用芯片前需要對芯片的 參數(shù)進行測試，以便在封裝前，剔出失效芯片，降低封裝成本。使用測試針對芯片進行測試 時，測試針經(jīng)常使用會造成其針尖氧化，出現(xiàn)針尖氧化現(xiàn)象會影響測試針與芯片壓焊區(qū)的 接觸性，造成接觸不良、接觸電阻大，影響芯片測試參數(shù)的準確性。一般的測試使用開爾文測試法，從硬件的角度出發(fā)解決接觸電阻的問題，針對芯 片級大功率的晶體管進行測試時需要...
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