技術(shù)編號：5966028
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于印制電路板，更具體地，涉及ー種基于給定閥值的數(shù)控成品電路板性能退化測評方法。背景技術(shù)印制電路板是電子產(chǎn)品中的主要部件，廣泛應(yīng)用于航空、數(shù)控、計算機、自動化儀器等各個領(lǐng)域，其質(zhì)量性能和穩(wěn)定性對產(chǎn)品來說至關(guān)重要。為了評估和考核其壽命與可靠性指標(biāo)，必須采用加速試驗的方法。加速壽命試驗也即在超過使用環(huán)境條件的應(yīng)カ條件下促使樣品在短期內(nèi)失效，以預(yù)測在正常使用環(huán)境下的可靠性，但不改變測試樣品的失效機理。然而，對于具備長壽命、高可靠性的印制電路板來說，在一定試...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。