技術編號：5963149
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本實用新型是關于一種開放式電子控溫平臺，尤指一種用以測試電子零組件成品、半成品的可控制溫度測試平臺。一般電子零組件無論早期開發(fā)階段的半成品，或開發(fā)完成后的成品，甚或量產(chǎn)后的品管測試或各種認證作業(yè)，均需于不同工作溫度下測試其運作功能。傳統(tǒng)是于一可控制溫度的密閉環(huán)境中調節(jié)不同環(huán)境溫度以進行測試。然而，習知以壓縮機來冷卻，或以電熱絲來加熱密閉環(huán)境，所需時間長而溫度控制不準確，十分困擾使用者。而且，習知只能調整在特定預設溫度下測試，如欲作動態(tài)溫度變化測試，因其壓縮...
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