技術(shù)編號：5959882
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種基于高動態(tài)條紋投射器的強反射表面三維形貌測量系統(tǒng)，該系統(tǒng)能夠有效克服強反射表面或強背景光對測量的影響，實現(xiàn)高精度非接觸光學(xué)測量，可用于金屬強反射表面、類鏡面表面的三維形貌測量，本發(fā)明屬于光學(xué)三維測量。背景技術(shù)基于正弦條紋投射的立體視覺檢測方法作為典型的非接觸光學(xué)主動三維測量方法，廣泛應(yīng)用于三維形貌測量、逆向工程和質(zhì)量檢測等諸多領(lǐng)域。采用這種主動視覺測量方法的測量系統(tǒng)具有測量精度高、獲取點云稠密、測量時間短等優(yōu)點。但在測量金屬強反射表面或類鏡面...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。