技術編號：5959138
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明有關于一種取放待測電子元件的方法與裝置，特別是有關于以兩種不同彈性系數(shù)的彈性裝置來產生兩階段的壓縮的取放待測電子元件的方法與裝置。背景技術 電子元件于制造完成后通常需要經(jīng)過測試，才能確定是否能夠達到預設的功能。在測試時，通常是將整批的電子元件放置于測試機臺(tester)的托盤(tray)中，由測試機臺上的取放裝置(handler)將一個或數(shù)個電子元件取放到擺梭裝置(shuttle means)，接著由擺梭裝置將待測電子元件運送至測試區(qū)，再由測試區(qū)的...
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